1 Diagnostyka ElektronicznaBIST dla filtru OTA-C zrealizowany metodą emulacji filtru za pomocą układu wszechprzepustowego październik 2009

2 Wprowadzenie Projektowanie dla testowania – każda modyfikacja układu na etapie projektowania, która może ułatwić testowanie, zredukować jego koszt, podnieść efektywność.

3 Wprowadzenie BIST (Built In Self Test) – mikroukład pomiarowy, wbudowany w układ scalony, w pakiet lub system elektroniczny umożliwiający jego samotestowanie.

4 Koncepcja BISTu

5 Wzmacniacze transkonduktancyjne (OTA)

6 OTA jednowyjściowy

7 OTA w pełni różnicowy

8 Prototypowy filtr RLC

9 Symulacja uziemionej rezystancji

10 Symulacja nieuziemionej rezystancji

11 Symulacja indukcyjności

12 Filtr OTA-C i filtr prototypowy RLC

13 Charakterystyka amplitudowo – częstotliwościowa filtru

14 Opóźnienie grupowe filtru w funkcji częstotliwości

15 W pełni różnicowa implementacja filtru OTA-C

16 Stopień wzmacniający

17 Filtry ze skorygowanym wzmocnieniem równym jeden

18 W pełni różnicowy układ wszechprzepustowy

19 Przebiegi opóźnienia grupowego w pełni różnicowego filtru OTA-C i equalizera

20 Blok analizujący (sumator napięć)

21 Element transkonduktancyjny (konwerter napięcia różnicowego na prąd pojedynczego wyjścia)

22 Aktywne obciążenie

23 Komparator okienkowy i układ logiczny

24 Charakterystyka przejściowa komparatora okienkowego

25 W pełni różnicowy filtr OTA-C z układem BIST

26

27 Przebiegi w układzie zdatnym

28 Przebiegi w układzie uszkodzonym

29 Przebiegi w układzie uszkodzonym

30 Parametry BISTu Pokrycie uszkodzeń: 98%Dodatkowe zużycie powierzchni krzemu: 20%

31 Detektor przejścia przez zero

32 Charakterystyka przejściowa