1 Metody goniometryczne w badaniach materiałów monokrystalicznych

2 Metoda Lauego

3 Otrzymywanie obrazów dyfrakcji metodą Lauego - lauegramy

4 Symetria lauegramów m

5 Metoda obracanego kryształu

6 Obrazy dyfrakcyjne w metodzie obracanego kryształu

7 Metoda kołysanego kryształu

8 Goniometr czterokołowy - geometria Eulera

9 Geometria Eulera Geometria kappa

10 Dyfraktometr 4-kołowy

11 Dyfraktometr wyposażony w detektor CCD* 07/16/96 Dyfraktometr wyposażony w detektor CCD *

12 Natężenie wiązki ugiętej I(h):* 07/16/96 Natężenie wiązki ugiętej I(h): gdzie: F(h) - czynnik struktury gdzie: fj - atomowy czynnik rozpraszania *

13 Problem fazowy w rozwiązywaniu struktury* 07/16/96 Problem fazowy w rozwiązywaniu struktury *

14 Zbiór danych: h, k, l, I(hkl), s(hkl)* 07/16/96 h k l I(hkl) s(I) Zbiór danych: h, k, l, I(hkl), s(hkl) Metoda Pattersona Metody bezpośrednie x y z Rb1 S1 1/3 2/3 0.12 Przybliżony model struktury Udokładnianie struktury metodą najmniejszych kwadratów Dokładny model struktury *

15 Udokładnianie struktury metodą najmniejszych kwadratów* 07/16/96 Udokładnianie struktury metodą najmniejszych kwadratów Wartości zmierzone Wartości obliczone na podstawie modelu struktury *

16 Wyniki badań strukturalnych RbHSO3* 07/16/96 Wyniki badań strukturalnych RbHSO3 Układ krystalograficzny: heksagonalny Grupa przestrzenna: R 3m a (4)A b (4)A c (8)A R wR liczba refleksów 463 liczba parametrów 14 max/min resztkowe r +0.52/-0.71e/A3 *

17

18 Ekstynkcja pierwotna Ekstynkcja wtórna Efekt Renningera wielokrotnego wewnętrznego odbicia Kryształy zbliźniaczone

19 Badania materiałów polikrystalicznych

20 Dyfrakcja na materiałach polikrystalicznych

21 Metoda Debye'a-Scherrera-Hulla (DSH)

22 Dyfraktometr rentgenowski do badań materiałów polikrystalicznychSchemat goniometru

23 Dyfraktometr 2-kołowy do badańmateriałów polikrystalicznych

24 Przykładowy dyfraktogram proszkowy Al(NH4)SO4·12H2O