1 Reflectometría de rayos-X (XRR) Producción de rayos X en laboratorio

2 Colimación paralela

3 Sistemas de detección Detector tipo “pin” Detector de pixeles híbridos

4 Reflectividad de rayos-X (XRR)  0.15 nm t  2-200 nm   0-5 nm ii rr  t =0

5 k i,  i, E 0i k r,  r, E 0r k t,  t, E 0t

6 Ecuación de Fresnel para la reflectividad Si q >> q c (q > 3q c !!!)

7 Importancia de la rugosidad en XRR

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11 L D d  El experimento real…. Fuentes de errores sistemáticos, incertezas y métodos de calibración El XEUSS 1.0